Начало
О нас
Условия доставки
Контакты
Новости
Дозирующее оборудование
Материалы обеспечения ЭМС
Оборудование для диагностики и ремонта PC
Оборудование для разработки, диагностики и сервиса РЭА
Паяльное оборудование и материалы для пайки
Электронные компоненты
Производители
ABRACON
ACE Lab
AD
Agilent
Allegro
Altera
AMD
ASLIC
BAOSHI
Bourns
BP Microsystems
C.I.F.
CATALYST
CFE
Chroma
Cirrus Logic
Coilcraft
Dazor
Domosys
E-TEC
EDT
FIL
Fisnar
FOX
GEC
HARRIS
Hi-Lo Systems
HOLTEK
HOSONIC
HYPERRISE
Hyundai
ICSI
Indium
Intel
Interflux
Intersil
Jamicon
JKL
Kestier
Lattice
LG
LTC
Marvell
MeanWell
Mitsubishi
Mosel-Vitelic
Motorola
NanYa
Nordic
NSC
Panasonic
Patco
PDR
Philips
Plato
PULSE
QMAX
QUICK
Samsung
SANKEN
SHENMAO
Siemens
SMSC
SST
STM
SULZER
SUNTAI
TAMURA
TDK
Telcom
TI
Toshiba
Ultra-X
Unitrode
WINBOND
Xeltek
XILINX
XYTRONIC
YeaMaw
Ключевое слово:

Оборудование для разработки, диагностики и сервиса РЭА

QT200-4848/3-MF1

QT200-4848/3-MF1

Цена: 20160.00 $

Мера: шт.
Производитель: QMAX

Внутрисхемный функциональный тестер TTL, CMOS, ECL, EIA, LSI, аналоговых микросхем с программируемым напряжением +/- 12 Вольт Характеристики: Цифровые каналы Ток тестирования на канал - 650 mA Скорость переключения каналов - 20 наносекунд Память цифрового канала - 8 K x 2 bit RAM Амплитуда напряжения - програм. с шагом 80mV +/- 10v Порог напряжения - програм. с шагом 80 mV +/- 10 V Частота тестирования до 500 kHz ( от 1.9 KHz до 500KHz) Библиотека тестера содержит более 10000 TTL, CMOS, ECL, EIA, LSI, аналоговые, гибридные микросхемы. Управляемый источник питания 5V - 7 A / -5V - 0.5A / +12V - 2.5A / -12V - 0.7A Аналоговые каналы Разрешение 12 bit Программируемое напряжение тестирования по амплитуде, фазе и частоте (синусоидальное, прямоугольное, треугольное, импульсное) Память канала- 8K x 12 bit RAM Частота тестов - max 250 KHz - min 0,25 Hz Диапазон значения импеданса 50 Ом,200 Ом,1кОм, 10 кОм, 100 кОм Напряжение/ток на канал +/- 250 mA, +/- 13 V QSM и сигнатурные каналы Диапазон тестирования 2.5 V / 25mA, 6.25mA, 1.25mA 8.0 V/ 20 mA, 4mA, 0.4mA 13V/6.5mA, 0,65mA, 0.065mA Частота тестирования - 40Hz, 312Hz, 2.5KHz Скорость тестирования - 30 mСек на сигнатуру